相位噪声和频率稳定性分析仪
解决方案
探索 Noise XT®
NOISE XT® 是一家专业制造商，致力于生产用于相位噪声和频率稳定性测量的高性能仪器。作为 SPHEREA 集团的一部分，NOISE XT 在超低噪声分析仪的设计方面拥有超过 25 年的专业知识，这些分析仪被用于最苛刻的应用中，包括雷达、电信和高速数字系统。
NOISE XT 产品系列为绝对和附加相位噪声测量提供精确、高效且易于使用的工具，支持连续波 (CW) 和脉冲信号。
为什么选择 NOISE XT 仪器？
超低噪声本底
行业领先的噪声本底，无需锁相即可实现精确测量。
测量灵活性
支持在宽频率范围内进行绝对和附加相位噪声测量。
长期可升级性
集成的频率稳定性分析，具有可扩展的硬件和软件选项。
产品系列中的通用功能
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绝对和附加相位噪声测量
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CW 和脉冲信号支持
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集成的频率稳定性分析
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超低固有噪声本底
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专为计量级环境设计
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每个产品的功能
Noise XT DNA 系列
超低噪声相位噪声分析仪，专为最苛刻的计量应用而设计。频率稳定性和相位噪声分析仪
射频输入频率：2 MHz 至 100 MHz (DNA 100M)
或 2 MHz 至 400 MHz (DNA 400M)
偏移分析：1mHz至 1 MHz（可用至 10 MHz）
相位噪声精度：+/- 1 dB
互相关CorellationNoise XT NXA 6
灵活且用户友好的相位噪声分析仪，适用于实验室和工业环境。输入频率：2 MHz 至 6 GHz
偏移分析：0.001 Hz 至 40 MHz
精度 1 Hz – 1 MHz 偏移：+/- 2 dB
精度 1 M – 40 MHz 偏移：+/- 3 dB
互相关Noise XT DCNTS
最先进的分析仪，可在市场上提供最低的噪声本底，无需锁相。输入频率：2 MHz 至 1.8/26.5/40/50 GHz
偏移分析：0.001 Hz 至 40 MHz
精度 1 Hz – 1 MHz 偏移：+/- 2 dB
精度 1 M – 40 MHz 偏移：+/- 3 dB
互相关Noise XT PN9000
用于高级相位噪声和频率稳定性测量的高性能解决方案。射频输入频率：2 MHz 至 1.8/26.5/40/50 GHz
偏移分析：0.001 Hz 至 40 MHz
精度 1 Hz 至 1 MHz 偏移：+/- 2 dB
至 40 MHz 偏移的精度：+/- 3 dB
